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半导体制造环境,减少电气过应力(EOS)和设备减少电磁干扰(EMI) 防治产品
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半导体生产工厂环境中的电磁干扰测量

电过压,简称EOS,是一种应用于电路或设备的电信号超过正常工作参数的现象。根据定义,这些过量的电信号是不正常的,不是设备正常运行的一部分。

高频信号,或电磁干扰(EMI),在电线通常寄生在中性线,由于瞬态信号的生成操作的设备,如步进变频电机、电磁阀、继电器等。这类设备的电磁干扰信号更强。

电力线上高频信号的测量对PLC(电力线通信)的分析很重要~ 不仅是对PLC信号本身的观察和测量,而且是对电力线上可能对PLC造成问题的干扰信号的测量。电力线通信分析面临的挑战之一是将高频信号从交流电源的高压中分离出来,以便示波器、频谱分析仪等仪器能够安全地观察和测量PLC信号。OnFILTER的电源线EMI适配器MSN15MSN17是专门为这项任务设计的。

在接地下产生的电磁干扰EMI信号造成EOS的可能性,当务之急是能够捕获峰值信号。

电力线通信分析面临的挑战之一是将高频信号从交流电源的高压中分离出来,以便示波器、频谱分析仪等仪器能够安全地观察和测量PLC信号。OnFILTER的电源线EMI适配器MSN15和MSN17是专门为这项任务设计的。它们完全阻断50/60Hz电压,只通过高频信号,提供与电源高压和真正平衡输入的完全电流分离。



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